结果表明:该质量浓度的铵根对测定无影响，部分待测元素灵敏谱线受到钒基较严重的光谱重叠或旁峰干扰;高质量浓度钒的基体效应，连续背景叠加等影响因素导致铝，铁，硅，偏钒酸铵，磷，铅，铬，钙的谱线强度增加，对其产生正干扰，同时高质量浓度钒的基体效应也导致钾，钠的谱线强度降低，偏钒酸铵生产厂家，对其产生负干扰.为此实验方法采用基体匹配和同步背景校正相结合的校正措施消除了高钒基体影响，同时试验优选了未受光谱干扰的各待测元素分析谱线及其背景校正和检测区域.结果表明，背景等效浓度为-0.000 3%(Na)～0.000 4%(Ca);铝，铁，硅，磷，铅，铬，钙在0.001%～0.60%(质量分数)范围内，钾，钠在0.005%～0.60%(质量分数)范围内，其质量分数与其对应的发射强度呈线性，各元素校准曲线的相关系数均不小于0.999;方法中各元素检出限为0.000 1%～0.000 6%.
偏钒酸铵产品中杂质含量偏高的原因
从生产流程、工艺过程控制参数选取等方面分析了偏钒酸铵产品中杂质含量偏高的原因。研究了APV在不同温度条件下，过滤杂质含量的变化趋势，除杂系数的调整，碱性沉钒铵盐的选择以及沉淀加铵系数等重要参数对杂质含量控制的影响。通过先运用低铵盐沉钒制取多钒酸铵、再返溶除杂净化、后碱沉的工艺流程，有效地将Cr、Si、Al等主要杂质含量由原来的0.05%以上降低至目前的0.02%以下，偏钒酸铵厂家，对攀钢现有高纯钒生产技术的提高具有重要的指导意义，为攀钢钒业新产品的开发奠定了基础。
按照实验方法测定两个偏钒酸铵样品中铝、铁、钾、钠、硅、磷、铅、、铬、钙，结果的相对标准偏差（RSD，n=8）分别为小于10%（质量分数为0.001%~0.010%），小于7%（质量分数为0.010%~0.050%），小于3%（质量分数大于0.050%）;实验方法用于测定4个偏钒酸铵样品中铝、铁、硅、磷、铅、、铬、钾、钠、钙，结果与电感耦合等离子体质谱法（ICP）测定结果相吻合。
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